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產(chǎn)品中心 材料樣品檢測
材料樣品檢測 探針臺
探針臺 KT-Z1604TZ高溫真空探針臺
KT-Z1604TZ高溫真空探針臺
 
                    
 產(chǎn)品簡介
產(chǎn)品簡介
                  高溫真空探針臺KT-Z1604TZ,可單選高溫或低溫等相應組件,溫度可達到400℃。以便測量分析溫度變化時芯片性能參數(shù)的變化。腔體內被測芯片在真空環(huán)境中有效避免易受氧化半導體器件接觸空氣所帶來的測試結果誤差。
| 品牌 | 鄭科探 | 
|---|
高溫真空探針臺KT-Z1604TZ
真空探針臺可實現(xiàn)高真空環(huán)境下的高溫及低溫電學性能測量,真空腔一體成型,具有設計合理,真空度穩(wěn)定,溫控精度及機械精度高等特點;根據(jù)測試溫度范圍不同,可單選高溫或低溫等相應組件,溫度可達到400℃,低溫部分采用液氮或液氦冷卻組件,溫度可低至-196℃,;真空系統(tǒng)可選機械泵或分子泵系統(tǒng),真空度可達到10-3Torr或10-6Tor。
高低溫真空探針臺應用:
可應用于低溫或高溫真空環(huán)境下被測樣品的電學性能測試分析,如:半導體/微電子,電子,機電,物理,化學,材料,光電,納米,微機電/MEMS,生物芯片,航空航天等科學研究領域,以及IC設計/制造/測試/封裝、LED、LCD/OLED、LD/PD、PCB、FPC等生產(chǎn)制造領域。

高溫真空探針臺KT-Z1604TZ參數(shù)
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 真空腔體 | |
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 腔體材質 | 
 304不銹鋼 | 
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 上蓋開啟 | 
 鉸鏈側開 | 
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 加熱臺材質 | 
 304不銹鋼 | 
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 內腔體尺寸 | 
 φ160x90mm | 
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 觀察窗尺寸 | 
 Φ70mm | 
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 加熱臺尺寸 | 
 φ60mm | 
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 觀察窗熱臺間距 | 
 75mm | 
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 加熱臺溫度 | 
 ﹣196~350℃ | 
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 加熱臺溫控誤差 | 
 ±1℃ | 
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 真空度 | 
 機械泵≤10Pa 分子泵≤10-3Pa | 
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 允許正壓 | 
 ≤0.1MPa | 
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 真空抽氣口 | 
 KF25真空法蘭 | 
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 氣體進氣口 | 
 3mm-6mm卡套接頭 | 
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 電信號接頭 | 
 SMA轉BNC X 4 | 
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 電學性能 | 
 絕緣電阻 ≥4000MΩ 介質耐壓 ≤500V | 
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 探針數(shù)量 | 
 4探針 | 
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 探針材質 | 
 鎢針 | 
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 探針尖 | 
 10μm | 
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 探針移動平臺 | |
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 X軸移動行程 | 
 30mm ±15mm | 
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 X軸控制精度 | 
 ≤0.01mm | 
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 Y軸移動行程 | 
 13mm ±12.5mm | 
| 
 Y軸控制精度 | 
 ≤0.01mm | 
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 Z軸移動行程 | 
 13mm ±12.5mm | 
| 
 Z軸控制精度 | 
 ≤0.01mm | 
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 電子顯微鏡 | |
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 顯微鏡類別 | 
 物鏡 | 
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 物鏡倍數(shù) | 
 0.7-4.5倍 | 
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 工作間距 | 
 90mm | 
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 相機 | 
 sony 高清 | 
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 像素 | 
 1920※1080像素 | 
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 圖像接口 | 
 VGA | 
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 LED可調光源 | 
 有 | 
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 顯示屏 | 
 8寸 | 
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 放大倍數(shù) | 
 19-135倍,視場范圍15×13-2.25×1.7mm,最小可分辨0.08mm |